LEICA DM8000 M 八吋晶圓檢察機
我們提供您 --- 創新與實用的半導體專用 顯微鏡暨影像技術
- 最佳光學解晰
- 最佳數位影像品質
- 最佳顯微鏡自動化
- 最佳服務技術支援
- 最佳投資效益
LEICA DM8000 M 適用於 8" 以下的晶圓, LCD, TFT, MEMS 鏡檢.
Leica 不僅是在光學解析有良好的表現, 在半導體晶圓與材料檢視應用的效能上, 更是首屈一指的典範. 經過全球十大半導體廠與十大電子廠的現場測試, 所有參與的科技界工程師, 一致給予最高的評價.
高速切換, 超高解析, 全自動化的鏡檢對比模式 : BF, DF, OBI, ICR, POL, IV, OUV ( Macro / Micro )
BF mode DF mode ICR (DIC) mode
LEICA DM12000 M 無論在晶圓, LCD, TFT 等的檢視應用, 本公司與 LEICA 專業團隊, 都會依照客戶的需求, 作完善的規劃. 從效率提升到經費的節省, 都有創新實用的解決方案.
高速切換 micro/macro - 效率的展現
0,7x Macro
5x BF Oblique
20x BF Oblique
100x BF Oblique
150x BF Oblique