BX51M-IR 系統IR顯微鏡
主要特點：
1.UIS無限遠校正光學系統，提供出色的圖像質量
2.人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
3.多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要
功能介紹
OLYMPUS BX51/BX51M-IR 系統IR顯微鏡
● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓，化合物半導體的內部，封裝芯片內部以及CSP bump觀察適宜
● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓，化合物半導體的內部，封裝芯片內部以及CSP bump觀察適宜