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BX51M 正立顯微鏡
特點
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片表面檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度

BX41M-ESD 正立顯微鏡
特點
‧迅速消除來自作業員和周圍環境可能帶來的靜電
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片表面檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度
BX61 電腦控制式-研究用正立顯微鏡
特點
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度
‧陶瓷鍍模載物台
‧可搭配電動型濾光片輪盤
BX51M-IR 系統IR顯微鏡
主要特點：
1.UIS無限遠校正光學系統，提供出色的圖像質量
2.人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
3.多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要
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BX51M 正立顯微鏡
特點
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片表面檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度

BX41M-ESD 正立顯微鏡
特點
‧迅速消除來自作業員和周圍環境可能帶來的靜電
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片表面檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度
BX61 電腦控制式-研究用正立顯微鏡
特點
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片檢查
‧提供各種不同照明系統
‧可搭配不同尺寸載物台
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度
‧陶瓷鍍模載物台
‧可搭配電動型濾光片輪盤
BX51M-IR 系統IR顯微鏡
主要特點：
1.UIS無限遠校正光學系統，提供出色的圖像質量
2.人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
3.多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要
BXFM-S / BXFM 系統顯微鏡
特點

‧可與各式表面檢查機台搭配
‧可搭配簡易式載物台
‧金屬切片研磨觀查
‧LCD/晶片表面檢查
‧提供各種不同照明系統
‧鼻輪確保精確的物鏡間同心度